產(chǎn)品詳情
                        
                        
            簡單介紹:
        
        
            天星ED400渦流測厚儀是ED300型測厚儀的改進型,儀器性能顯著提高。天星ED400渦流測厚儀主要用于測量鋁合金型材表面的陽極氧化膜或涂層厚度,還可用于測量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽極氧化膜或涂層厚度,測量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度,測量塑料薄膜及紙張厚度。
        
    
            詳情介紹:
        
        
            天星ED400渦流測厚儀
	
		
    | 技術參數(shù) |  | |
| 測量范圍: | 0~500 μm | |
| 測量精度: | 0~50 μm:±1 μm; | |
|  | 50~500 μm:±2% | |
| 分辨率: | 0~50 μm:0.1 μm; | |
|  | 50~500 μm:1 μm; | |
|  | 0~500 μm:1 μm(可選) | |
| 使用溫度: | 5~45℃ | |
| 外形尺寸: | 150 mm×80 mm×30 mm |  | 
| 重量: | 280 g | |
標準配置:儀器主機(含探頭),校準基體,校準片,說明書,保修卡,合格證,儀器箱,第三方計量證書(校準片)。
 
     
    