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產(chǎn)品詳情
簡(jiǎn)單介紹：
天星ED400渦流測(cè)厚儀是ED300型測(cè)厚儀的改進(jìn)型，儀器性能顯著提高。天星ED400渦流測(cè)厚儀主要用于測(cè)量鋁合金型材表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，還可用于測(cè)量其它鋁板、鋁管、鋁塑板、鋁零件表面的陽(yáng)極氧化膜或涂層厚度，測(cè)量其他有色金屬材料上絕緣性覆蓋層的厚度，測(cè)量塑料薄膜及紙張厚度。
詳情介紹：
天星ED400渦流測(cè)厚儀
| 技術(shù)參數(shù) |
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| 測(cè)量范圍： | 0～500 μm | |
| 測(cè)量精度： | 0～50 μm：±1 μm； | |
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50～500 μm：±2% | |
| 分辨率： | 0～50 μm：0.1 μm； | |
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50～500 μm：1 μm； | |
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0～500 μm：1 μm（可選） | |
| 使用溫度： | 5～45℃ | |
| 外形尺寸： | 150 mm×80 mm×30 mm |
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| 重量： | 280 g | |
標(biāo)準(zhǔn)配置：儀器主機(jī)（含探頭），校準(zhǔn)基體，校準(zhǔn)片，說(shuō)明書(shū)，保修卡，合格證，儀器箱，第三方計(jì)量證書(shū)（校準(zhǔn)片）。