日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀采用分體式探頭，主要用于測(cè)量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）以及非磁性金屬上*緣層厚度.
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀根據(jù)測(cè)量基體材質(zhì)不同主要有以下三種型號(hào)
LE-370：主要用于磁性金屬上非磁性涂鍍層厚度測(cè)試
LH-370：主要用于非磁性金屬上*緣層厚度測(cè)試
LZ-370：雙功能儀器，綜合了LE-370與LH-370兩款儀器的功能，主要用于磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上*緣層厚度測(cè)試.
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀主要特點(diǎn)
支持多國(guó)語(yǔ)言，如中、英、日、韓.
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能
儀器有自動(dòng)背光功能，方便晚上使用
可針對(duì)不同產(chǎn)品保留測(cè)量通道，數(shù)據(jù)可存儲(chǔ)，可輸出*電腦
可分批統(tǒng)計(jì)*大值、*小值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)差
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測(cè)厚儀技術(shù)參數(shù)
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格型號(hào) |
LE-370 |
LH-370 |
LZ-370 |
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測(cè)定對(duì)象 |
磁性金屬上非磁性涂鍍層 |
非磁性金屬上*緣層 |
磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上*緣層 |
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測(cè)定范圍 |
0～3000um |
0～1500um |
0～3000um |
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測(cè)定精度 |
<50um±1um , >50um±2% |
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分 辨 率 |
<100um 0.1um , >100um 1um |
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計(jì)量單位 |
公制、英制可自由切換 |
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顯示方式 |
LCD液晶屏 |
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操作面板 |
密封防水多功能數(shù)字鍵盤 |
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隨機(jī)附件 |
基體/校正標(biāo)準(zhǔn)片/電池/皮套/說(shuō)明書 |
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電 源 |
DV6V 5#堿性電池×4個(gè) |
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體 積 |
75mm(W)×145(mmD)×21mm(H) |
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重 量 |
500g |
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