日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測厚儀
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測厚儀采用分體式探頭，主要用于測量磁性金屬基體（如鐵、合金和硬磁性鋼等）上非磁性覆層的厚度（如銅、鋁、鉻、琺瑯、橡膠、油漆等）以及非磁性金屬上*緣層厚度.
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測厚儀根據測量基體材質不同主要有以下三種型號
LE-370：主要用于磁性金屬上非磁性涂鍍層厚度測試
LH-370：主要用于非磁性金屬上*緣層厚度測試
LZ-370：雙功能儀器，綜合了LE-370與LH-370兩款儀器的功能，主要用于磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上*緣層厚度測試.
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測厚儀主要特點
支持多國語言，如中、英、日、韓.
具有自動關機功能
儀器有自動背光功能，方便晚上使用
可針對不同產品保留測量通道，數(shù)據可存儲，可輸出*電腦
可分批統(tǒng)計*大值、*小值、平均值、標準差
日本Kett 370系列分體式膜厚儀覆層測厚儀技術參數(shù)
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格型號 |
LE-370 |
LH-370 |
LZ-370 |
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測定對象 |
磁性金屬上非磁性涂鍍層 |
非磁性金屬上*緣層 |
磁性金屬上非磁性涂鍍層非磁性金屬上*緣層 |
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測定范圍 |
0～3000um |
0～1500um |
0～3000um |
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測定精度 |
<50um±1um , >50um±2% |
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分 辨 率 |
<100um 0.1um , >100um 1um |
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計量單位 |
公制、英制可自由切換 |
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顯示方式 |
LCD液晶屏 |
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操作面板 |
密封防水多功能數(shù)字鍵盤 |
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隨機附件 |
基體/校正標準片/電池/皮套/說明書 |
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電 源 |
DV6V 5#堿性電池×4個 |
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體 積 |
75mm(W)×145(mmD)×21mm(H) |
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重 量 |
500g |
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