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常用無(wú)損檢測(cè)方法的能力范圍和局限性
日期：2025-12-20 08:23
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摘要：
常用無(wú)損檢測(cè)方法的能力范圍和局限性
1 概述
1.1 每種NDT 方法均有其能力范圍和局限性，各種方法對(duì)缺欠的檢測(cè)概率既不會(huì)是 100 ％，也不會(huì)完全相同。例如射線照相檢測(cè)和超聲檢測(cè)，對(duì)同一被檢工件的檢測(cè)結(jié)果不會(huì)完全一致。
1.2 常規(guī)NDT 方法中，射線照相檢測(cè)和超聲檢測(cè)可用于檢測(cè)被檢工件內(nèi)部和表面的缺欠；渦流檢測(cè)和磁粉檢測(cè)用于檢測(cè)被檢工件表面和近表面的缺欠；滲透檢測(cè)*用于檢測(cè)被檢工件表面開(kāi)口的缺欠。
1.3
1.4 射線照相檢測(cè)常被用于檢測(cè)金屬鑄件和焊縫，超聲檢測(cè)常被用于檢測(cè)金屬鍛件、型材、焊縫和某些金屬鑄件。在對(duì)焊縫中缺欠的檢測(cè)能力上，超聲檢測(cè)通常要優(yōu)于射線照相檢測(cè)。射線照相檢測(cè)（）
能力范圍：
能檢測(cè)出焊縫中存在的未焊透、氣孔、夾渣等缺欠；
b) 能檢測(cè)出鑄件中存在的縮孔、夾渣、氣孔、疏松、熱裂等缺欠；
c) 能檢測(cè)出形成局部厚度差或局部密度差的缺欠；
d) 能確定缺欠的平面投影位置和大小，以及缺欠的種類。
GB/T 5616—××××
注：400kV Ｘ射線的透照厚度可達(dá) 85 mm 左右，鈷 60 伽瑪射線的透照厚度可達(dá) 200 mm 左右，9 MeV 高能Ｘ射線的透照厚度可達(dá) 400 mm 左右。
2.2 局限性：
較難檢測(cè)出鍛件和型材中存在的缺欠；
b) 較難檢測(cè)出焊縫中存在的細(xì)小裂紋和未熔合；
c) 不能檢測(cè)出垂直射線照射方向的薄層缺欠；
d) 不能確定缺欠的埋藏深度和垂直高度。超聲檢測(cè)（）
能力范圍：
能檢測(cè)出鍛件中存在的裂紋、白點(diǎn)、分層、大片或密集的夾雜等缺欠；
注：
b) 能檢測(cè)出焊縫中存在的裂紋、未焊透、未熔合、夾渣、氣孔等缺欠；
注：
c) 能檢測(cè)出型材（包括板材、管材、棒材及其他型材）中存在的裂紋、折疊、分層、片狀?yuàn)A渣等
缺欠；
注：
d) 能檢測(cè)出鑄件（如形狀簡(jiǎn)單、表面平整或經(jīng)過(guò)加工整修的鑄鋼件或球墨鑄鐵）中存在的熱裂、
冷裂、疏松、夾渣、縮孔等缺欠；
e) 能測(cè)定缺欠的埋藏深度和自身高度。局限性：
較難檢測(cè)出粗晶材料（如奧氏體鋼的鑄件和焊縫）中存在的缺欠；
b) 較難檢測(cè)出形狀復(fù)雜或表面粗糙的工件中存在的缺欠；
c) 較難判定缺欠的性質(zhì)。渦流檢測(cè)（）
能力范圍：
能檢測(cè)出導(dǎo)電材料（包括鐵磁性和非鐵磁性金屬材料、石墨等）的表面和（或）近表面存在的裂
b) 能測(cè)定缺欠的坐標(biāo)位置和相對(duì)尺寸。
4.2 局限性：
a) 不適用于非導(dǎo)電材料；
b) 不能檢測(cè)出導(dǎo)電材料中存在于遠(yuǎn)離檢測(cè)面的內(nèi)部缺欠；
c) 較難檢測(cè)出形狀復(fù)雜的工件表面或近表面存在的缺欠；
d) 難以判定缺欠的性質(zhì)。磁粉檢測(cè)（）
能力范圍：
能檢測(cè)出鐵磁性材料（包括鍛件、鑄件、焊縫、型材等各種工件）的表面和（或）近表面存在
b) 能確定缺欠在被檢工件表面的位置、大小和形狀。
5.2 局限性：
a) 不適用于非鐵磁性材料，如奧氏體鋼、銅、鋁等材料；
b) 不能檢測(cè)出鐵磁性材料中存在于遠(yuǎn)離檢測(cè)面的內(nèi)部缺欠；
c) 難以確定缺欠的深度。滲透檢測(cè)（）
能力范圍：
a) 能檢測(cè)出金屬材料和致密性非金屬材料的表面存在開(kāi)口的裂紋、折疊、疏松、針孔等缺欠；
b) 能確定缺欠在被檢工件表面的位置、大小和形狀。
6.2 局限性：
a) 不適用于疏松的多孔性材料；
b) 不能檢測(cè)出表面未開(kāi)口而存在于材料內(nèi)部和（或）近表面的缺欠；
c）
1.1 每種NDT 方法均有其能力范圍和局限性，各種方法對(duì)缺欠的檢測(cè)概率既不會(huì)是 100 ％，也不會(huì)完全相同。例如射線照相檢測(cè)和超聲檢測(cè)，對(duì)同一被檢工件的檢測(cè)結(jié)果不會(huì)完全一致。
1.2 常規(guī)NDT 方法中，射線照相檢測(cè)和超聲檢測(cè)可用于檢測(cè)被檢工件內(nèi)部和表面的缺欠；渦流檢測(cè)和磁粉檢測(cè)用于檢測(cè)被檢工件表面和近表面的缺欠；滲透檢測(cè)*用于檢測(cè)被檢工件表面開(kāi)口的缺欠。
1.3
1.4 射線照相檢測(cè)常被用于檢測(cè)金屬鑄件和焊縫，超聲檢測(cè)常被用于檢測(cè)金屬鍛件、型材、焊縫和某些金屬鑄件。在對(duì)焊縫中缺欠的檢測(cè)能力上，超聲檢測(cè)通常要優(yōu)于射線照相檢測(cè)。射線照相檢測(cè)（）
能力范圍：
能檢測(cè)出焊縫中存在的未焊透、氣孔、夾渣等缺欠；
b) 能檢測(cè)出鑄件中存在的縮孔、夾渣、氣孔、疏松、熱裂等缺欠；
c) 能檢測(cè)出形成局部厚度差或局部密度差的缺欠；
d) 能確定缺欠的平面投影位置和大小，以及缺欠的種類。
GB/T 5616—××××
注：400kV Ｘ射線的透照厚度可達(dá) 85 mm 左右，鈷 60 伽瑪射線的透照厚度可達(dá) 200 mm 左右，9 MeV 高能Ｘ射線的透照厚度可達(dá) 400 mm 左右。
2.2 局限性：
較難檢測(cè)出鍛件和型材中存在的缺欠；
b) 較難檢測(cè)出焊縫中存在的細(xì)小裂紋和未熔合；
c) 不能檢測(cè)出垂直射線照射方向的薄層缺欠；
d) 不能確定缺欠的埋藏深度和垂直高度。超聲檢測(cè)（）
能力范圍：
能檢測(cè)出鍛件中存在的裂紋、白點(diǎn)、分層、大片或密集的夾雜等缺欠；
注：
b) 能檢測(cè)出焊縫中存在的裂紋、未焊透、未熔合、夾渣、氣孔等缺欠；
注：
c) 能檢測(cè)出型材（包括板材、管材、棒材及其他型材）中存在的裂紋、折疊、分層、片狀?yuàn)A渣等
缺欠；
注：
d) 能檢測(cè)出鑄件（如形狀簡(jiǎn)單、表面平整或經(jīng)過(guò)加工整修的鑄鋼件或球墨鑄鐵）中存在的熱裂、
冷裂、疏松、夾渣、縮孔等缺欠；
e) 能測(cè)定缺欠的埋藏深度和自身高度。局限性：
較難檢測(cè)出粗晶材料（如奧氏體鋼的鑄件和焊縫）中存在的缺欠；
b) 較難檢測(cè)出形狀復(fù)雜或表面粗糙的工件中存在的缺欠；
c) 較難判定缺欠的性質(zhì)。渦流檢測(cè)（）
能力范圍：
能檢測(cè)出導(dǎo)電材料（包括鐵磁性和非鐵磁性金屬材料、石墨等）的表面和（或）近表面存在的裂
b) 能測(cè)定缺欠的坐標(biāo)位置和相對(duì)尺寸。
4.2 局限性：
a) 不適用于非導(dǎo)電材料；
b) 不能檢測(cè)出導(dǎo)電材料中存在于遠(yuǎn)離檢測(cè)面的內(nèi)部缺欠；
c) 較難檢測(cè)出形狀復(fù)雜的工件表面或近表面存在的缺欠；
d) 難以判定缺欠的性質(zhì)。磁粉檢測(cè)（）
能力范圍：
能檢測(cè)出鐵磁性材料（包括鍛件、鑄件、焊縫、型材等各種工件）的表面和（或）近表面存在
b) 能確定缺欠在被檢工件表面的位置、大小和形狀。
5.2 局限性：
a) 不適用于非鐵磁性材料，如奧氏體鋼、銅、鋁等材料；
b) 不能檢測(cè)出鐵磁性材料中存在于遠(yuǎn)離檢測(cè)面的內(nèi)部缺欠；
c) 難以確定缺欠的深度。滲透檢測(cè)（）
能力范圍：
a) 能檢測(cè)出金屬材料和致密性非金屬材料的表面存在開(kāi)口的裂紋、折疊、疏松、針孔等缺欠；
b) 能確定缺欠在被檢工件表面的位置、大小和形狀。
6.2 局限性：
a) 不適用于疏松的多孔性材料；
b) 不能檢測(cè)出表面未開(kāi)口而存在于材料內(nèi)部和（或）近表面的缺欠；
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